Galileo系列軟件
基于快速深度學(xué)習(xí)技術(shù)在工業(yè)視覺(jué)與工業(yè)瑕疵檢測(cè)方面的應(yīng)用場(chǎng)景,我們推出了“Galileo”系列軟件產(chǎn)品。該系列產(chǎn)品將“AI深度學(xué)習(xí)算法、模型訓(xùn)練、模型測(cè)試、在線檢測(cè)分析、數(shù)據(jù)分析報(bào)表、缺陷自動(dòng)生成、云深度學(xué)習(xí)服務(wù)、AI定制化算法”等一站式實(shí)現(xiàn)。可根據(jù)客戶實(shí)際使用場(chǎng)景的不同需求,選擇使用不同功能模塊與不同產(chǎn)品。 |
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深度工業(yè)視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)
工業(yè)視覺(jué)識(shí)別云平臺(tái)
在線檢測(cè)與大數(shù)據(jù)系統(tǒng)
缺陷樣本管理系統(tǒng)
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Galileo-X
深度工業(yè)視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)
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Galileo-T
在線檢測(cè)系統(tǒng)
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Galileo-T
檢測(cè)大數(shù)據(jù)輔助決策系統(tǒng)
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產(chǎn)品化 門檻低
專為本土生產(chǎn)企業(yè)打造,極為簡(jiǎn)單的產(chǎn)線工人維護(hù)界面
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超高效率
建模、標(biāo)注速度快,節(jié)省80%的時(shí)間;定制化大幅提升檢測(cè)速度
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高速神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
自研核心技術(shù),對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)深度優(yōu)化,大幅降低復(fù)雜度,模型加速超30~50倍
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高準(zhǔn)確率
通過(guò)追加與反饋訓(xùn)練,檢測(cè)準(zhǔn)確率接近100%
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全流程檢測(cè)
構(gòu)建四項(xiàng)全流程檢測(cè)體系,工業(yè)應(yīng)用更加廣泛
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支持復(fù)雜圖像
模擬人腦識(shí)別,實(shí)現(xiàn)高復(fù)雜度背景下的靈敏檢測(cè),超越現(xiàn)有的傳統(tǒng)圖像分析、檢測(cè)技術(shù)
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跨平臺(tái)兼容性
深度學(xué)習(xí)的全新框架,可以對(duì)接、移植到任何軟件、硬件平臺(tái)
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可視化報(bào)告
支持輸出自定義、可視化測(cè)試與檢測(cè)報(bào)告
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超20億樣本庫(kù)
超過(guò)20億以上的工業(yè)生產(chǎn)瑕疵樣本庫(kù)
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靈活設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)
根據(jù)生產(chǎn)需求,調(diào)整正負(fù)樣本,進(jìn)行優(yōu)化訓(xùn)練,靈活應(yīng)對(duì)各種檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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聯(lián)機(jī)質(zhì)檢
多設(shè)備聯(lián)機(jī)質(zhì)檢大數(shù)據(jù)分析,為工業(yè)生產(chǎn)提供可靠決策輔助
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MES系統(tǒng)
對(duì)接MES系統(tǒng)
2.5D / 3D手機(jī)玻璃
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 2.3s/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 2.5% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:臟污、毛發(fā)、塵點(diǎn)、劃傷、崩邊、凹凸點(diǎn)、深劃......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
金屬化陶瓷
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 100ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.3% | 過(guò)殺 ≤ 1%
缺陷類型:劃傷、崩邊、臟污、開裂、劃痕、缺失......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
金屬零件
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 500ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:臟污、亮印、劃傷、點(diǎn)傷、模印、刀紋、缺口......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
工業(yè)字符識(shí)別
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 120ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
電子元器件
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 2ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.01% | 過(guò)殺 ≤ 1%
缺陷類型:漏磁、氣泡、端頭開裂、變形、黑片、龜裂、月牙、沙眼、壓痕......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
軟包動(dòng)力電池
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 5s/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1%(嚴(yán)重缺陷0漏檢) | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:極片翻折、破損漏夜、封邊異物、凸點(diǎn)、針孔......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果