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Galileo系列AI視覺(jué)軟件方案

Galileo系列軟件


基于快速深度學(xué)習(xí)技術(shù)在工業(yè)視覺(jué)與工業(yè)瑕疵檢測(cè)方面的應(yīng)用場(chǎng)景,我們推出了“Galileo”系列軟件產(chǎn)品。該系列產(chǎn)品將“AI深度學(xué)習(xí)算法、模型訓(xùn)練、模型測(cè)試、在線檢測(cè)分析、數(shù)據(jù)分析報(bào)表、缺陷自動(dòng)生成、云深度學(xué)習(xí)服務(wù)、AI定制化算法”等一站式實(shí)現(xiàn)。可根據(jù)客戶實(shí)際使用場(chǎng)景的不同需求,選擇使用不同功能模塊與不同產(chǎn)品。

深度工業(yè)視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)

工業(yè)視覺(jué)識(shí)別云平臺(tái)

在線檢測(cè)與大數(shù)據(jù)系統(tǒng)

缺陷樣本管理系統(tǒng)

系列軟件檢測(cè)流程
系列軟件介紹

深度工業(yè)視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng):Galileo-X

核心功能:建模、標(biāo)注、訓(xùn)練、驗(yàn)證、檢測(cè)、反饋、追加訓(xùn)練、報(bào)表

GalileoX是深視創(chuàng)新中美兩地團(tuán)隊(duì)自主研發(fā),完全獨(dú)立知識(shí)產(chǎn)權(quán),基于“快速深度學(xué)習(xí)”技術(shù)的工業(yè)視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng),在工業(yè)視覺(jué)識(shí)別中利用深度學(xué)習(xí)技術(shù)的檢測(cè)、分類、定位、OCR的場(chǎng)景需求一站式完全解決,并大大降低算法后期的維護(hù)難度與成本。




缺陷檢測(cè)物體分類定位識(shí)別OCR字符識(shí)別

在線檢測(cè)系統(tǒng):Galileo-T

核心功能:數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、回查、分析、報(bào)表、輔助決策/標(biāo)注過(guò)殺,漏檢/反饋訓(xùn)練

在線檢測(cè):專為產(chǎn)線上實(shí)時(shí)操作檢測(cè)作業(yè)而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,服務(wù)于工業(yè)檢測(cè)設(shè)備前端,直接面向設(shè)備操作者,為產(chǎn)線檢測(cè)工作提供極大便利。

功能與拓展性:檢測(cè)模塊、缺陷再過(guò)濾模塊、數(shù)據(jù)樣本反饋模塊融合,能與Galileo-X或同類平臺(tái)對(duì)接,以及市面上所有的運(yùn)控系統(tǒng)、工控系統(tǒng)、設(shè)備完美對(duì)接。

自由定制:根據(jù)不同產(chǎn)品制定獨(dú)立的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),檢測(cè)方法和形式更加靈活。

產(chǎn)線檢測(cè)數(shù)據(jù)分析自由搭建無(wú)限兼容

檢測(cè)大數(shù)據(jù)輔助決策系統(tǒng):Galileo - T

GalileoT檢測(cè)大數(shù)據(jù)輔助決策系統(tǒng),其主要應(yīng)用于工業(yè)產(chǎn)品缺陷檢測(cè)的大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),可以更加全面、更加高效的對(duì)生產(chǎn)及檢測(cè)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)與管理。

產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)產(chǎn)品生產(chǎn)的品質(zhì),及出貨有著至關(guān)重要的作用,在眾多碎片化的數(shù)據(jù)中,很難定位各環(huán)節(jié)銜接的狀態(tài)。因此大數(shù)據(jù)決策系統(tǒng)由此而生,專為解決產(chǎn)線工位數(shù)據(jù)信息孤島問(wèn)題,將工廠所有產(chǎn)線及所有環(huán)節(jié)的檢測(cè)數(shù)據(jù)匯總并分析,對(duì)異常數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)報(bào)警提升產(chǎn)品品質(zhì)降低不必要的損失。


大數(shù)據(jù)分析輔助決策全產(chǎn)線數(shù)據(jù)匯總實(shí)時(shí)異常預(yù)警

大數(shù)據(jù)算法無(wú)縫匹配
多種樣本生成方案
多平臺(tái)無(wú)縫對(duì)接

缺陷樣本管理系統(tǒng):Galileo-D

核心功能:缺陷庫(kù)分類、生成缺陷、生成新樣本、數(shù)據(jù)調(diào)用、訓(xùn)練、測(cè)試

專為輔助樣本集采集與缺陷標(biāo)注而設(shè)計(jì),減少80%以上的人工操作,降低90%的樣本采集時(shí)間,真正意義上實(shí)現(xiàn)了“無(wú)樣本訓(xùn)練模型” 。







海量樣本無(wú)縫匹配自由調(diào)用

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
  • 產(chǎn)品化 門檻低

    專為本土生產(chǎn)企業(yè)打造,極為簡(jiǎn)單的產(chǎn)線工人維護(hù)界面

  • 超高效率

    建模、標(biāo)注速度快,節(jié)省80%的時(shí)間;定制化大幅提升檢測(cè)速度

  • 高速神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)

    自研核心技術(shù),對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)深度優(yōu)化,大幅降低復(fù)雜度,模型加速超30~50倍

  • 高準(zhǔn)確率

    通過(guò)追加與反饋訓(xùn)練,檢測(cè)準(zhǔn)確率接近100%

  • 全流程檢測(cè)

    構(gòu)建四項(xiàng)全流程檢測(cè)體系,工業(yè)應(yīng)用更加廣泛

  • 支持復(fù)雜圖像

    模擬人腦識(shí)別,實(shí)現(xiàn)高復(fù)雜度背景下的靈敏檢測(cè),超越現(xiàn)有的傳統(tǒng)圖像分析、檢測(cè)技術(shù)

  • 跨平臺(tái)兼容性

    深度學(xué)習(xí)的全新框架,可以對(duì)接、移植到任何軟件、硬件平臺(tái)

  • 可視化報(bào)告

    支持輸出自定義、可視化測(cè)試與檢測(cè)報(bào)告

  • 超20億樣本庫(kù)

    超過(guò)20億以上的工業(yè)生產(chǎn)瑕疵樣本庫(kù)

  • 靈活設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)

    根據(jù)生產(chǎn)需求,調(diào)整正負(fù)樣本,進(jìn)行優(yōu)化訓(xùn)練,靈活應(yīng)對(duì)各種檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

  • 聯(lián)機(jī)質(zhì)檢

    多設(shè)備聯(lián)機(jī)質(zhì)檢大數(shù)據(jù)分析,為工業(yè)生產(chǎn)提供可靠決策輔助

  • MES系統(tǒng)

    對(duì)接MES系統(tǒng)

部分應(yīng)用案例

2.5D / 3D手機(jī)玻璃

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 2.3s/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 2.5% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:臟污、毛發(fā)、塵點(diǎn)、劃傷、崩邊、凹凸點(diǎn)、深劃......

缺陷類型:深劃
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

金屬化陶瓷

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 100ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.3% | 過(guò)殺 ≤ 1%

缺陷類型:劃傷、崩邊、臟污、開裂、劃痕、缺失......

缺陷類型:劃痕
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

金屬零件

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 500ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:臟污、亮印、劃傷、點(diǎn)傷、模印、刀紋、缺口......

缺陷類型:毛刺、劃傷
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

工業(yè)字符識(shí)別

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 120ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%

識(shí)別類型:大寫字母
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

電子元器件

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 2ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.01% | 過(guò)殺 ≤ 1%

缺陷類型:漏磁、氣泡、端頭開裂、變形、黑片、龜裂、月牙、沙眼、壓痕......

缺陷類型:端頭不良
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

軟包動(dòng)力電池

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 5s/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1%(嚴(yán)重缺陷0漏檢) | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:極片翻折、破損漏夜、封邊異物、凸點(diǎn)、針孔......

缺陷類型:封邊異物
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果